霍尔效应测试服务
服务内容：
我公司提供对半导体材料霍尔效应相关参数测试，如体载流子浓度、表载流子浓度、迁移率、电阻率、电导率、霍尔电压、霍尔系数等，薄膜或固体材料均可。
测试设备：
|
JH60A霍尔效应测试仪-电磁铁型/ JH60B霍尔效应测试仪-高磁场型/ JH60C霍尔效应测试仪-高低温磁场型/ JH60D霍尔效应测试仪-低温型 |
|
|
磁场范围 |
0-±1T |
|
样品电流范围 |
50nA～50mA（最小可调节电流为 0.1nA） |
|
测量电压范围 |
0.1uV～30V |
|
最小分辨率 |
1GS |
|
电阻率范围 |
5*10-5～5*102Ω.cm |
|
电阻范围 |
10 m Ohms～ 6MOhms |
|
载流子浓度范围 |
5*1012～51*1020cm-3 |
|
霍尔系数范围 |
±1*10-2～±1*106cm3/C |
|
迁移率范围 |
0.1～108cm2/volt*sec |
|
可测试材料 |
半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料，低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料， 高阻抗材料：半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等
|
|
JH60E霍尔效应测试仪-高阻型 |
|
|
磁场范围 |
0～1T |
|
样品电流范围 |
0.05uA~50mA(调节 0.1nA) |
|
测量电压范围 |
0.1UV～30V |
|
最小分辨率 |
0.1GS |
|
电阻率范围 |
5*10-4~108Ω.cm |
|
电阻范围 |
10 mΩ-100GΩ |
|
载流子浓度范围 |
6*108~1023cm-3 |
|
霍尔系数范围 |
±1*10-5~±1*1010cm3/C |
|
迁移率范围 |
1~106cm2/vs |
|
可测试材料 |
半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料等 低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料等 高阻抗材料：半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等 |
